Microsemi公司的5120A/5125A系列相位噪聲及艾倫偏差(ADEV)測試儀，采用超低噪底，準確、高速的數模轉化器，無需外部校準。全數字一體化設計，一次按鍵便可開始測量，幾秒鐘后測試數據便出現在高分辨率顯示屏上。
    5120A/5125A采用了創新的互相關技術，交叉關聯雙通道的離散傅里葉變換，抵消了系統本身的噪聲，更好的估算輸入信號的噪聲，從而獲得更精確的測量結果。
    5120A可選擇增添內部振蕩器選項（-01選項），無需外部參考源，獨立完成測量。5125A將測量頻率范圍擴展到400MHz，應對更廣泛的測試、測量需求。

   相位噪聲和艾倫方差同時測量
   頻率范圍：5120A：1-30MHz，5125A：1-400MHz
   支持被測信號和參考源使用不同的頻率值
   無需校準，一鍵開始，幾秒鐘后實時顯示數據
   艾倫方差測量超過300天
   相位噪聲測量接近0.1mHz
   實時顯示內部噪聲
   通過網口遠程管理和數據采集