Microsemi公司的5120A/5125A系列相位噪聲及艾倫偏差(ADEV)測(cè)試儀，采用超低噪底，準(zhǔn)確、高速的數(shù)模轉(zhuǎn)化器，無需外部校準(zhǔn)。全數(shù)字一體化設(shè)計(jì)，一次按鍵便可開始測(cè)量，幾秒鐘后測(cè)試數(shù)據(jù)便出現(xiàn)在高分辨率顯示屏上。
    5120A/5125A采用了創(chuàng)新的互相關(guān)技術(shù)，交叉關(guān)聯(lián)雙通道的離散傅里葉變換，抵消了系統(tǒng)本身的噪聲，更好的估算輸入信號(hào)的噪聲，從而獲得更精確的測(cè)量結(jié)果。
    5120A可選擇增添內(nèi)部振蕩器選項(xiàng)（-01選項(xiàng)），無需外部參考源，獨(dú)立完成測(cè)量。5125A將測(cè)量頻率范圍擴(kuò)展到400MHz，應(yīng)對(duì)更廣泛的測(cè)試、測(cè)量需求。

   相位噪聲和艾倫方差同時(shí)測(cè)量
   頻率范圍：5120A：1-30MHz，5125A：1-400MHz
   支持被測(cè)信號(hào)和參考源使用不同的頻率值
   無需校準(zhǔn)，一鍵開始，幾秒鐘后實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)
   艾倫方差測(cè)量超過300天
   相位噪聲測(cè)量接近0.1mHz
   實(shí)時(shí)顯示內(nèi)部噪聲
   通過網(wǎng)口遠(yuǎn)程管理和數(shù)據(jù)采集