3120A相位噪聲及艾倫方差測試儀
3120A相位噪聲及艾倫方差測試儀
產品概述：
Microchip公司（原Microsemi）的3120A相位噪聲及艾倫方差測試儀能夠進行準確的相位噪聲和艾倫偏差測量，被測信號范圍從0.5MHz至30MHz，覆蓋全部常用的標準頻率參考。3120A需要一個外部參考頻率源，以及運行在外部計算機上的測試軟件來完成相位噪聲及艾倫方差的測量。除了相位噪聲和艾倫偏差，用戶還可以選擇升級測試軟件，還可以獲得HDEV、MDEV、TDEV、抖動（jitter）的測量數據，以及頻率計數器和Mask限制測試的功能。
3120A采用了全數字架構，使用先進、高速、低噪聲數模轉換器，不需要鎖相環進行測量，配合簡單易用的測試軟件，是客戶完成頻率測試、測量工作的，具有經濟效益的方式。
主要特征：
小巧的外形，經濟的價格 不需要校準，幾秒鐘就可顯示測量結果 支持被測和參考信號為不同的頻率 實時圖形顯示相位及頻率偏差，可記錄超過100萬個采集點 具備數字I/O擴展端口和獨立的ADC輸入 隨機的測量軟件，簡單易用，具備高效的表現 支持直觀的ASCII文件類型的數據導入/導出
技術規格：
上一個：
4033A 15路脈沖分配放大器
下一個：
XPRO高性能銣原子鐘
