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3120A相位噪聲及艾倫方差測(cè)試儀

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3120A相位噪聲及艾倫方差測(cè)試儀

產(chǎn)品概述:

       Microsemi公司的3120A相位噪聲及艾倫方差測(cè)試儀能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的相位噪聲和艾倫偏差測(cè)量,被測(cè)信號(hào)范圍從0.5MHz至30MHz,覆蓋全部最常用的標(biāo)準(zhǔn)頻率參考。3120A需要一個(gè)外部參考頻率源,以及運(yùn)行在外部計(jì)算機(jī)上的測(cè)試軟件來完成相位噪聲及艾倫方差的測(cè)量。除了相位噪聲和艾倫偏差,用戶還可以選擇升級(jí)測(cè)試軟件,還可以獲得HDEV、MDEV、TDEV、抖動(dòng)(jitter)的測(cè)量數(shù)據(jù),以及頻率計(jì)數(shù)器和Mask限制測(cè)試的功能。
    3120A采用了全數(shù)字架構(gòu),使用先進(jìn)、高速、低噪聲數(shù)模轉(zhuǎn)換器,不需要鎖相環(huán)進(jìn)行測(cè)量,配合簡(jiǎn)單易用的測(cè)試軟件,是客戶完成頻率測(cè)試、測(cè)量工作的,最具經(jīng)濟(jì)效益的方式。

主要特征:

詳情里小圖標(biāo).png   小巧的外形,經(jīng)濟(jì)的價(jià)格
詳情里小圖標(biāo).png   不需要校準(zhǔn),幾秒鐘就可顯示測(cè)量結(jié)果
詳情里小圖標(biāo).png   支持被測(cè)和參考信號(hào)為不同的頻率
詳情里小圖標(biāo).png   實(shí)時(shí)圖形顯示相位及頻率偏差,可記錄超過100萬個(gè)采集點(diǎn)
詳情里小圖標(biāo).png   具備數(shù)字I/O擴(kuò)展端口和獨(dú)立的ADC輸入
詳情里小圖標(biāo).png   隨機(jī)的測(cè)量軟件,簡(jiǎn)單易用,具備高效的表現(xiàn)
詳情里小圖標(biāo).png   支持直觀的ASCII文件類型的數(shù)據(jù)導(dǎo)入/導(dǎo)出

技術(shù)規(guī)格:

  詳情截圖-3120A相位噪聲及艾倫方差測(cè)試儀.jpg